正如上一篇文章所展示的那樣，EMI/ RFI可能會(huì)對(duì)電源噪聲測(cè)量造成嚴(yán)重破壞，在相同的情況下，我們也應(yīng)始終注意示波器探頭的某些特性;即10X衰減探頭，通常新示波器都標(biāo)配這種探頭，當(dāng)使用10X衰減探頭而不是帶微夾鉗前端的BNC探頭時(shí)，我們會(huì)得到什么樣的測(cè)量結(jié)果？

圖1是這些測(cè)量的示例，我們使用力科HDO8108A示波器進(jìn)行這些測(cè)量，10X衰減探頭是力科的PP023 500MHz無(wú)源探頭。HDO8108A足夠智能，可以自動(dòng)檢測(cè)10X探頭何時(shí)連接到其中一個(gè)模擬輸入通道，其顯示的是探頭前端的電壓。兩個(gè)波形都使用相同的20mV / div刻度。

圖1 使用10X衰減探頭（上部）和BNC探頭（底部）捕獲的信號(hào)波形顯示不同的噪聲水平

如圖1所示，兩個(gè)波形中的噪聲拾取量相當(dāng)，在前端打開(kāi)的情況下，探頭對(duì)電場(chǎng)更敏感， 10X探頭測(cè)量到72 mV pk-pk和11 mV RMS，而同軸探頭測(cè)量到36 mV pk-pk和4.2 mV RMS。

圖2是相同的測(cè)量，但前端短接在一起時(shí)的狀況，在這種情況下，探頭對(duì)磁場(chǎng)更敏感，然而，兩條波形的噪聲分量還是相當(dāng)，這次，10X探頭測(cè)得33 mV pk-pk和1.6 mV RMS; 同軸電纜探頭測(cè)得24 mV pk-pk和1.2 mV RMS。

正如上一篇文章中對(duì)RF干擾的分析一樣，我們了解了這些測(cè)量中的噪聲源（人造RF，可能是附近設(shè)備中有缺陷的時(shí)鐘）解決RF干擾問(wèn)題的方法是從DUT到示波器外殼的正確屏蔽。

圖3顯示了應(yīng)用適當(dāng)屏蔽并在探頭尖端短路的情況下進(jìn)行測(cè)量的結(jié)果，正如所預(yù)想的那樣，就像在RF干擾實(shí)驗(yàn)中一樣，BNC探頭的信號(hào)幾乎沒(méi)有噪聲。

然而，10X探頭就完全不一樣了，請(qǐng)注意，這些波形以相同的10 mV / div刻度顯示，但10X探頭的噪聲是BNC探頭噪聲的10倍，原因是兩個(gè)探頭在示波器的放大器中看到相同的噪聲，但它在10X探頭前端反射了10倍。

這些例子表明，如果你使用任何類型的10X衰減探頭，并且正在探測(cè)示波器底噪或其附近的低電平信號(hào)，那么已經(jīng)有效地放棄了10倍的信號(hào)，引入相同數(shù)量的噪聲，可以預(yù)期信噪比（SNR）會(huì)降低20 dB。

這個(gè)測(cè)試示例再次證明，使用任何類型的10X衰減探頭，SNR將降低20 dB。在某些情況下，使用10X探頭可以很好的完成測(cè)試。但不適用于低電平信號(hào)，也不適用于示波器噪聲基底附近的任何小信號(hào)的測(cè)試。