NSG3040A是Teseq公司新推出的一臺(tái)用于在抗擾度測(cè)試中模擬電磁干擾影響的發(fā) 生器，它操作簡(jiǎn)便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國(guó)內(nèi)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的要求（包括最新的 EC/EN標(biāo)準(zhǔn)）。NSG3040A采用了新的Teseq設(shè)計(jì)理念，使得特測(cè)的多功能發(fā)生器產(chǎn)品系 列更加完整。這種創(chuàng)新的設(shè)計(jì)基于模塊化結(jié)構(gòu)，因而提供了一個(gè)多功能測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以按照基 本測(cè)試要求配置，也可擴(kuò)展功能以滿足需求多樣的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的要求。

      NSG3040A系統(tǒng)設(shè)計(jì)于滿足用于CE標(biāo)志測(cè)試的傳導(dǎo)EMC測(cè)試需要，它一般包括組合 波、EFT脈沖和PQT。強(qiáng)大的擴(kuò)展能力使得該系統(tǒng)具有更廣泛的應(yīng)用范圍。成熟、獨(dú)特的“主—從”概念技術(shù)使得單個(gè)脈沖模塊能夠獨(dú)立校準(zhǔn)，并將校準(zhǔn)資料和修 正系數(shù)存儲(chǔ)于從控制器上。新模塊安裝簡(jiǎn)便，無(wú)需返回整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

      由于采用技術(shù)先進(jìn)的組件，NSG 3040A在開(kāi)關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)， 并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。因?yàn)椴捎昧司哂懈哔|(zhì)、對(duì)比度極佳的大型7”彩色觸摸板顯示，NSG3040A的操作非常簡(jiǎn) 便。既可以通過(guò)一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來(lái)進(jìn)行輸入。此外，在開(kāi) 發(fā)環(huán)境下，通過(guò)內(nèi)置的DTA功能（直接測(cè)試程序調(diào)用），幾個(gè)“點(diǎn)擊”就能激活標(biāo)準(zhǔn)測(cè) 試，并能迅速、準(zhǔn)確地得到結(jié)論性結(jié)果。各參數(shù)值均為高度可視的，通過(guò)大的觸摸輸入鍵可以迅速選擇并修改這些參數(shù)值。該操 作不需要觸控筆，測(cè)試參數(shù)可以迅速、簡(jiǎn)便地編輯出來(lái)?？梢院?jiǎn)便地進(jìn)行多步驟測(cè)試程 序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。

      選擇“高級(jí)模式”后，用戶可以在測(cè)試中使用滾輪進(jìn)行手動(dòng)參數(shù)修改—有效、迅速地簡(jiǎn) 化激活關(guān)鍵閾值的方法。

通過(guò)易操作的SD讀卡器可進(jìn)行固件快速下載?？梢酝暾谋４嬗捎脩糁付ǖ臏y(cè)試。在 存儲(chǔ)空間不夠的特殊情況下，可用市場(chǎng)購(gòu)買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的 測(cè)試文件可被輕松復(fù)制進(jìn)更大內(nèi)存的SD卡中。

      NSG3040A具有以太網(wǎng)端口，可接受來(lái)自個(gè)人電腦的外部控制。Windows軟件簡(jiǎn)化了測(cè)試 程序并允許為各種類型的測(cè)試編寫復(fù)雜的測(cè)試序列。在測(cè)試進(jìn)程中，操作人員可以進(jìn)行 觀察并在測(cè)試操作中生成測(cè)試報(bào)告，以此增加長(zhǎng)期測(cè)試的效率。

 模塊化、可擴(kuò)展系統(tǒng)