

可擴(kuò)展的器件級(jí)參數(shù)特性測(cè)試方案ACS基礎(chǔ)版
吉時(shí)利的ACS BASIC系統(tǒng),能最大程度地提高負(fù)責(zé)封裝器件特性分析的技術(shù)人員和工程師在器件研究、開發(fā)、質(zhì)量驗(yàn)證和失效分析等應(yīng)用中的工作效率。當(dāng)配合一臺(tái)或多臺(tái)2600A或2400系列數(shù)字源表使用時(shí),ACS BASIC系統(tǒng)便成為強(qiáng)大、簡(jiǎn)單易用的器件特性分析工具。由于ACS BASIC系統(tǒng)包含了完整的器件參數(shù)測(cè)試庫(kù),因此它能快速、容易地為您提供所需結(jié)果,以便于您驗(yàn)證該器件的性能是否符合規(guī)格,以及完成相關(guān)的檢驗(yàn)或質(zhì)量評(píng)估,或者了解新旗艦或新材料的電學(xué)特性。
ACS BASIC系統(tǒng)針對(duì)簡(jiǎn)化封裝器件的測(cè)試流程進(jìn)行了優(yōu)化,例如,該基于向?qū)У膱D形界面會(huì)引導(dǎo)您逐步完成器件模型、測(cè)試類別和具體測(cè)試模塊的選擇。對(duì)于沒有更多時(shí)間或者不用成為專業(yè)測(cè)試工程師,但依然需要快速獲取器件準(zhǔn)確性能得使用者,ACS BASIC系統(tǒng)是非常理想的選擇。
l 可定制的硬件配置方案以適用于多種測(cè)試環(huán)境
l 為器件的特性測(cè)試、功能驗(yàn)證和分析應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化
l 無需編寫代碼:ACS具有直觀的圖形界面,能夠簡(jiǎn)單、快速地獲取電流-電壓測(cè)試、分析和結(jié)果
l 測(cè)試項(xiàng)目高度可移植性:無需任何更改或只用做少量修改,就能使在某一硬件配置系統(tǒng)上創(chuàng)建的測(cè)試移植到其他硬件配置的系統(tǒng)上運(yùn)行
l 測(cè)試項(xiàng)目共享:減少重復(fù)開發(fā)
l 靈活的模塊化軟件架構(gòu)便于擴(kuò)展您的系統(tǒng)并且使系統(tǒng)應(yīng)用能適應(yīng)潛在的測(cè)試需求
l 免費(fèi)的后臺(tái)運(yùn)行程序能容易地在另一臺(tái)PC上開發(fā)新的測(cè)試程序,無需停止正在運(yùn)行工作的系統(tǒng)
ACS BASIC系統(tǒng)結(jié)合了高速硬件控制,器件連接以及數(shù)據(jù)管理等功能,是用于器件的參數(shù)驗(yàn)證,調(diào)試以及分析簡(jiǎn)單易用的工具。
當(dāng)您需要快速獲取封裝器件的參數(shù)時(shí),ACS BASIC系統(tǒng)基于向?qū)J降挠脩艚涌谀軌蚍奖愕夭檎液瓦\(yùn)行您想要的測(cè)試,就算這個(gè)普通的FET曲線跟蹤測(cè)試那樣。
ACS BASIC系統(tǒng)與傳統(tǒng)的圖示儀非常相似,能快速產(chǎn)生一系列封裝器件的特征曲線,并能靈活、容易地對(duì)結(jié)果作保存、比較和驗(yàn)證。